JX-2000顆粒形貌分析儀
價 格:詢價
產(chǎn) 地:四川更新時間:2020-11-05 14:13
品 牌:成都精新型 號:JX-2000
狀 態(tài):正常點擊量:1708
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1、 工業(yè)***攝像頭高速采集,光學顯微鏡放大成像,圖像快速顯示于電腦,直接觀察顆粒形貌,專用軟件進行顆粒數(shù)據(jù)處理。
2、 提供等面積和等周長兩種基準下的個數(shù)、直徑、面積、體積、圓形度等分布數(shù)據(jù)。同時提供顆粒數(shù)、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等粒度分布數(shù)據(jù),配有(30)多種圖像分析和處理功能,可以滿足各種圖像處理需要。
3、 對采集的圖像進行調(diào)整高度、寬度、亮度、對比度、濾波、填充等,提高分析分辨率,網(wǎng)格標注顆粒尺寸等功能,使測試結(jié)果更真實可靠。
4、 顆粒形貌圖像可存盤和打印,還可輸出多種格式的測試報告。另可根據(jù)行業(yè)特殊要求,設(shè)計磨料、硅灰石等專用軟件。
產(chǎn)品參數(shù)
1、測量范圍:0.5μm~3000μm
2、全平場消色差物鏡,最大分辨率0.07微米,最大光學放大倍數(shù)1600倍,打印最大倍數(shù)4000倍(A4幅面)
產(chǎn)品介紹
JX-2000顆粒形貌分析儀,該系統(tǒng)由光學顯微鏡、USB攝像機、圖像分析軟件、電腦、打印機等部分組成。能準確的進行顆粒形貌分析,并進行顆粒數(shù)據(jù)處理,測試顆粒粒度分布,適用于控制分析產(chǎn)品質(zhì)量。
儀器分二種型號,技術(shù)原理、參數(shù)都相同,JX-2000A顆粒形貌分析儀配置透射顯微鏡,JX-2000B顆粒形貌分析儀配置透反射顯微鏡,后者還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析。