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檢測：1.材料內(nèi)部晶格結(jié)構(gòu)，雜質(zhì)顆粒，沉淀物；2.內(nèi)部裂紋；3.分層缺陷；4.空洞、氣泡。

原理 ：
利用不同材料對超聲波聲阻抗不同，對聲波的吸收和反射程度不同，來探測半導體、元器件的結(jié)構(gòu)、缺陷、對材料做定性分析。

應用:

D9500以其無與倫比的精度和穩(wěn)健性成為了現(xiàn)代微聲學成像的標準，是失效分析，工藝開發(fā)，材料分析與表征和小批量生產(chǎn)的***佳選擇。D9500采用同時傳輸和反射模式，并且應用更新更符合人體工程學設計。

主要特征：

慣性平穩(wěn)掃描裝置能減少振動，確保***佳的掃描結(jié)果
新的，更大的掃描范圍，有多個托盤可以容納大樣本
多語言操作系統(tǒng)，使用者可以選擇母語：中文，英語和日語。
溫度控制選擇：無論周圍環(huán)境中空氣溫度變化，會確保***天中水的溫度保持不變
B型掃描定量分析模式（Q-BAM）：Sonoscan特有的B型掃描模式，為用戶提供***個極準確且包含深層數(shù)據(jù)的虛擬橫截面。