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梅特勒AB265-S電子天平|電子分析天平

1.采用高分辨率的稱量單元，滿足用戶高精度的稱量需求 

2.稱量單元保護裝置（CellProtector），提高產品的抗沖擊、過載性能 

3.堅固的金屬機架，避免稱量樣品的污染，延長天平的使用壽命 

4.可讀性為0.1mg天平采用背亮式液晶顯示屏（Backlit LCD），方便用戶讀取稱量結果 

5.內置砝碼校準，確保稱量結果的[accuracy]性 

6.雙量程（DualRange）設計，滿足客戶對不同樣品的稱量需求 

7.可以拆除的防風罩設計，實現天平的快速清潔 

8.內置RS232通訊接口，方便連接打印機、電腦等外圍設備 

9.標配機架塑料保護罩（Protective cover），避免散落樣品的腐蝕 

10.具有簡單稱量、百分比稱量、計件稱量和動態(tài)稱量等內置應用程序 

AB-L：外置砝碼校準（需選購）； 

AB-S：內置砝碼校準；

AB-IC：內置砝碼校準；

AB-S/FACT：采用溫度漂移及時間設置觸發(fā)的全自動校準技術（FACT）。 

（1）精細量程內10 g樣品典型重復性：0.02mg 

（2）精細量程內10 g樣品典型線性：0.03mg

梅特勒AB265-S電子天平|電子分析天平

髙至稱量值：61 g / 220 g

可讀性：0.01 mg / 0.1 mg

重復性：0.03 mg / 0.1 mg

線性：±0.2 mg

穩(wěn)定時間（典型）：4s / 15 s

內部砝碼校準：通過按鍵觸發(fā)

外部砝碼校準：200 g

靈敏度（溫度取樣泵漂移）：2.5 ppm/°C

接口：RS232

秤盤尺寸：? 80 mm

稱量盤上方的有效高度：237 mm

尺寸：245 x 321 x 344 mm (WxDxH)

梅特勒AB265-S電子天平|電子分析天平

電子天平校準方法：

為了使電子天平校準的[accuracy]，在校準前應先將電子天平進行預熱。

將秤盤上的物體全部取下，然后按住“CAL（校準）”鍵不松手，約3秒，進入校準狀態(tài)，顯示“CAL 砝碼值”，接著顯示閃耀“砝碼值”，放上相應的砝碼，稍后顯示砝碼重量，即進入稱重狀態(tài)。如校準后稱量仍不[accuracy]，則按上述方法重復校準幾次。

電子天平在校準時應在10秒鐘不讓砝碼便會自動退出校準。

電子天平在稱重超過***定的時間，或者是搬動之后，為了保證電子天平的正常使用，是有必要進行校準的。