Park XE7
創(chuàng)新研究的經(jīng)濟之選
Park XE7配有Park Systems的所有技術(shù)，而且價格十分親民。XE7在細節(jié)的設(shè)計上也相當(dāng)用心，是幫助您準(zhǔn)確且不超預(yù)算地完成研究的理想之選。
無與倫比的高性能
在同***產(chǎn)品中，Park XE7能夠帶來納米***分辨率的測量效果。得益于獨特的原子力顯微鏡架構(gòu)，即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測量，從而精確成像和測量樣品的特征。此外，Park所獨有的True Non-Contact?模式還能為您帶來前所未有的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。
滿足當(dāng)前和未來需求
在Park XE7的幫助下，現(xiàn)在與未來皆在您的掌控中。Park XE7帶有業(yè)內(nèi)*全面的測量模式。這些模式不僅能滿足您目前的需求，也考慮到未來不斷變化的需求。再者，XE7具有市場上*為開放性的設(shè)計，允許您整合其他附件和儀器，從而滿足您特殊的研究需求。
易于使用和高生產(chǎn)率
Park XE7擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具，即便是初學(xué)者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預(yù)準(zhǔn)直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準(zhǔn)直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理，XE7能夠全力推動研究效率的提高。
經(jīng)濟實惠超越了系統(tǒng)成本
Park XE7不僅僅是性價比的研究***原子力顯微鏡，也是使用成本的原子力顯微鏡。Park XE7中所搭載的True Non-Contact?模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針尖端，并且它配有業(yè)內(nèi)*多的掃描模式，兼容性極佳，讓您可隨時升***系統(tǒng)功能，從而延長產(chǎn)品的使用壽命
Park XE7
滿足研究的創(chuàng)新功能
精確的XY方向掃描，徹底消除了交叉耦合誤差
■樣品探針和針尖的兩種獨立閉環(huán)XY和Z平板式掃描
■平板式和線性XY掃描，殘余彎曲誤差極小
■整個掃描范圍內(nèi)的水平線性誤差小于2nm
■精確的高度測量
Non-ContactTM(真正非接觸TM)模式能夠延長針尖壽命，
提供高分辨率和保護樣品。
■其Z伺服速度是壓電管基礎(chǔ)系統(tǒng)的10倍
■非接觸式可降低針尖摩損、延長使用壽命
■成像分辨率優(yōu)于同類原子力顯微鏡
■增強樣品兼容性，提高掃描速度
*豐富的功能拓展方案
■支持多種SPM模式
■多種可選配測量模式
■多種可選配件及更新，擴展性能優(yōu)越
*為便利的使用設(shè)計
■開放式樣品空間，提高樣品及針尖更換效率
■預(yù)對準(zhǔn)針尖安裝和同軸直視光路直觀地實現(xiàn)激光對準(zhǔn)
■燕尾鎖方便鏡頭拆卸
Park XE7
AFM技術(shù)
無掃描器弓形彎曲的平直正交XY軸掃描
Park的串?dāng)_消除技術(shù)不僅改善了掃描器弓形彎曲的缺點還能夠在各種不同掃描位置，掃描速度和掃描尺寸條件下進行平直正交的XY軸掃描。即使是*平坦的樣品也不會出現(xiàn)如光學(xué)平面，各種偏移掃描等曲率的背景。由此可以為您在研究中遇到的所有極具挑戰(zhàn)性的問題提供高精確度的納米測量。
無耦合關(guān)系的XY和Z掃描器
Park和競爭對手*根本的區(qū)別在于掃描器的構(gòu)造，Park獨特又獨立的XY軸與Z軸掃描器設(shè)計使其達到了無可比擬的高精度的納米分辨率數(shù)據(jù)。
精確的表面測量
樣品表面平直掃描!
■低殘差弓形彎曲
■無需軟件處理(原始數(shù)據(jù))
■不受掃描位置影響也會有精確的掃描結(jié)果
真正非接觸模式TM可保護針尖鋒利度
原子力顯微鏡的針尖本身很脆弱，在掃描過程中，針尖磨損會逐漸降圖片質(zhì)量和分辨率。
測量表面軟的樣品時，針尖也會破壞樣品并生成不準(zhǔn)確的樣品高度測量數(shù)據(jù)。
作為Park原子力顯微鏡*獨特的***種掃描模式，
真正非接觸模式TM可持續(xù)獲得高分辨率且精確的數(shù)據(jù)，同時保持針尖的完整性。
Park XE7
配備創(chuàng)新的AFM技術(shù)
■10 um x 10um掃描范圍的二維柔性導(dǎo)向掃描器
XY軸掃描器含有對稱的二維柔性和高強度壓電疊堆，可在保持平面外運動*少的情況下，實現(xiàn)高正交運動以及納米***樣品掃描下的高影響度。緊湊且堅固的結(jié)構(gòu)是為了低噪聲高速伺服回應(yīng)而設(shè)計的。
■柔性導(dǎo)向的高強力Z軸掃描器
憑借著高強度壓電疊堆和柔性結(jié)構(gòu)，其可以允許掃描器以的速度縱向移動，這是傳統(tǒng)原子力顯微鏡中掃描器所無法做到的。Z軸掃描范圍可從標(biāo)準(zhǔn)的12μm增至40μm(選配件，長距離Z軸掃描器)。
■滑動連接的SLD掃描頭
燕尾式軌道設(shè)計，輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。該設(shè)計可將鏡頭自動鎖定至預(yù)對準(zhǔn)的位置，同時與電路系統(tǒng)連接，無線纜操作，重復(fù)定位精度幾奈米。借助低相干性的830nmSLD激光器，顯微鏡可精確成像并可在皮牛量***進行力-距離曲線獲取。此外，SLD激光器830nm的波長也消除了環(huán)境光照的干擾，讓用戶可隨意在可見光譜實驗中使用原子力顯微鏡。
■操作簡易的樣品臺
開放式設(shè)計可容納100mm*100mm*20mm的樣品，且可輕易從側(cè)面更換樣品和探針。
■手動的XY軸樣品臺
在手動XY軸樣品臺的精確控制下，樣品的測量定位變得簡單。 XY軸樣品臺的行程范圍是13mm x 13mm。
■手動的光學(xué)對焦平臺
同軸鏡頭可手動調(diào)焦。
以DSP為核心的電路控制系統(tǒng)
原子力顯微鏡的納米***信號是由高性能的Park XE電子控制器所控制和處理的。憑借著低噪聲設(shè)計和高速處理單元，Park XE電子控制器成功實現(xiàn)了True Non-ContactTM模式，這是納米***成像和精確電壓電流測量的絕佳選擇。
■高性能DSP，頻率達600MHz，處理速度高達4800MIPS
■低噪聲設(shè)計，帶來精確的電流電壓測量
■全能系統(tǒng)，融合各種掃描探針顯微鏡技術(shù)
■外部信號獲取模塊，獲取原子力顯微鏡輸入/輸出信號
■16位數(shù)字圖像
■16位數(shù)字圖像
■16位ADC/DAC，頻率為500kHz
■利用TCP/IP連接隔離電腦噪聲
Park XE7
世界上****和*容易操作的AFM
10μm x10μm掃描范圍的二維撓性導(dǎo)向掃描器
XY掃描器含系統(tǒng)二維柔性和強力壓電堆疊，全范圍正交移動時，具有業(yè)界*小的水平線性誤差，并能實現(xiàn)精確的樣品納米***掃描。
帶高分辨率的同軸直視光路
同軸直視光路使得用戶直接俯視觀看樣品，從而很容易就能找到目標(biāo)區(qū)域。高分辨率CCD具備變焦功能，移動過程中可確保清晰的圖像質(zhì)量。
簡單的探針和樣品更換
獨特的頭部設(shè)計讓您能夠輕易地從側(cè)面更換新的探針和樣品。借助安裝懸臂式探針夾頭中預(yù)先對齊的懸臂，你無需進行繁染的激光校準(zhǔn)工作。
簡單且敏銳的激光校準(zhǔn)
憑借著我們的預(yù)校準(zhǔn)懸臂架，懸臂在裝載時激光便可聚焦完畢。此外，自上而下的同軸視角讓您可以輕松地找到激光光點。由于激光垂直照射在懸臂上，您可以憑兩個定位旋鈕，將激光光點準(zhǔn)確定位。這樣，您可以在激光準(zhǔn)直界面中，輕易地找到激光并將其定位在PSPD上。此時，您只需要稍微調(diào)整以化信號，便可開始獲取數(shù)據(jù)。
Park XE
適用于任何研究
標(biāo)準(zhǔn)成像
■真正的非接觸模式
■接觸模式
■間歇式(輕敵式)AFM
■橫向力模式(LFM)
■相位成像
化學(xué)性能
■功能化探針的化學(xué)力顯微鏡
■電化學(xué)顯微鏡(EC-STM和EC-AFM)
介電/電壓性能
■靜電力顯微鏡(EFM)
■動態(tài)接觸式靜電力顯微鏡(DC-EFM)
■壓電力顯微鏡(PFM)
■高電壓PFM
力測量
■力-距離(F-D)光譜
■力-體積成像
■熱噪聲法標(biāo)定彈性系數(shù)
電性能
■導(dǎo)電AFM
■IV譜線
■掃描開爾文探針顯微鏡(SKPM/KPM)
■高電壓SKPM
■掃描電容顯微鏡(SCM)
■掃描電阻顯微鏡(SSRM)
■掃描隧道顯微鏡(STM)
■掃描隧道光譜(STS)
■時間分辨的光電流測繪(Tr-PCM)
磁性能
■磁力顯微鏡(MFM)
■可調(diào)外加磁場MFM
機械性能
■力調(diào)制顯微鏡(FMM)
■納米壓痕
■納米刻蝕
■高電壓納米刻蝕
■納米操控
■壓電力顯微鏡(PFM)
光學(xué)性能
■探針增強拉曼光譜(TERS)
■時間分辨的光電流測繪(Tr-PCM)
熱性能
■掃描熱感顯微鏡
選項
25μmZ掃描器
■工作距離：25μm
■激光類型：LD(650nm)orSLD(830nm)
■掃描器諧振頻率：1.7kHz
■零位掃描噪聲：0.03nm(typical),0.05nm(maximum)
光學(xué)頭
■光學(xué)兼容性：上方及側(cè)面
■激光類型：LD(650nm)orSLD(830nm)
■Z掃描范圍：12μm or 25μm
■零位掃描噪聲：0.03nm(typical),0.05nm(maximum)
■掃描器諧振頻率：3kHz(12μm XE Head),1.7kHz(25μm XE Head)
磁場發(fā)生器
■施加外部磁場，平行于樣品表面方向
■強度范圍：-300 ~+300 高斯,-1500 ~ +1500高斯
■磁場強度可調(diào)
■由純鐵芯和雙螺線管組成
夾制探手
■適用于未裝載的探針
■可以為電力顯微鏡和導(dǎo)電顯微鏡提供偏壓
■探針偏壓范圍：-10V to +10V
■支持所有標(biāo)準(zhǔn)模式及高***模式，掃描隧道顯微鏡、掃描電容顯微鏡及液體成像除外。
液體池
■多功能液池
注滿液體/氣體的開式或閉式液池
控溫范圍：4°C to +110°C(in air), 4°C to +70°C(with liquid)
■電化學(xué)工作池
■開放/閉式液池
液池用探手
■專為液體環(huán)境成像設(shè)計
■耐常見緩沖液及弱酸堿腐蝕
■在液體環(huán)境下實現(xiàn)接觸和非接觸成像
控溫臺
■制熱制冷臺(-25~180度)
■250度控溫臺
■600度0控溫臺
信號接入模塊
■使原子力顯微鏡可接入各種輸入/輸出信號
■XY及Z掃描器的掃描器驅(qū)動信號
■XY及Z掃描器的位置信號
■垂直/水平方便的懸臂撓度信號
■樣品及懸臂的偏壓信號
■XE7的驅(qū)動信號
■系統(tǒng)的輔助輸入信號
Park XE7
規(guī)格
掃描器
XY掃描器
閉環(huán)控制式單模塊柔性XY-掃描器
掃描范圍：100μm x 100μm
50μm x 50μm
10μm x 10μm
Z掃描器
柔性引導(dǎo)高力度掃描器
掃描范圍：12μm
25μm
光學(xué)系統(tǒng)
可觀察樣品和探針的直視同軸光學(xué)系統(tǒng)
10X物鏡(可選20X)
視場：480X360μm
CCD：1M像素(像素分辨率：0.4μm)
樣品尺寸
樣品尺寸：10mm
樣品高度：20mm
電路系統(tǒng)
高性能DSP : 600 MHz with 4800 MIPS
圖像尺寸: 4096 x 4096像素, 16個數(shù)據(jù)圖像
信號輸入： 在500kHz取樣時, 16位ADC的20個通道
信號輸出： 在500kHz取樣時, 16位ADC的21個通道
同步信號 ：圖像結(jié)束, 線結(jié)束及像素結(jié)束TTL信號
主動Q控制(選配)
懸臂梁彈性常數(shù)校準(zhǔn)(選配)
CE Compliant
電源 : 120 W
信號處理模塊 (選配)
選項/模式
標(biāo)準(zhǔn)成像
真正的非接觸模式
接觸模式
間歇式(輕敲式)AFM
橫向力模式(LFM)
相位成像
化學(xué)性能
功能化探針的化學(xué)力顯微鏡
電化學(xué)顯微鏡(EC-STM和EC-AFM)
介電/壓電性能
靜電力顯微鏡(EFM)
動態(tài)接觸式靜電力顯微鏡(DC-EFM)
壓電力顯微鏡(PFM)
高電壓PFM
力測量
力-距離(F-D)光譜
力-體積成像
磁性能
磁力顯微鏡(MFM)
可調(diào)外加磁場MFM
光學(xué)性能
探針增強行拉曼光譜(TERS)
時間分辨的光電流測繪(Tr-PCM)
電性能
導(dǎo)電AFM
I-V譜線
掃描開爾文探針顯微鏡(SKPM/KPM)
高電壓SKPM
掃描電容顯微鏡(SCM)
掃描電阻顯微鏡(SSRM)
掃描隧道顯微鏡(STM)
掃描隧道光譜(STS)
時間分辨的光電流測繪(Tr-PCM)
機械性能
力調(diào)制顯微鏡(FMM)
納米壓痕
納米刻蝕
納米刻蝕
納米操縱
壓電力顯微鏡(PFM)
熱性能
掃描熱感顯微鏡
樣品臺
XY臺工作范圍：13X13mm
Z臺工作范圍：29.5mm
聚焦臺工作范圍：70mm
軟件
XEP
系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集的專用軟件
實時調(diào)整反饋參數(shù)
通過外部程序(選項)進行腳本***控制
XEI
AFM數(shù)據(jù)分析軟件
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
