雙折射應(yīng)力儀 PA-200
價 格：詢價
產(chǎn) 地：更新時間：2021-01-18 16:40
品 牌：型 號：PA-200-L
狀 態(tài)：正常點擊量：1494
400-006-7520
聯(lián)系我時，請說明是在上海非利加實業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
聯(lián) 系 人：
上海非利加實業(yè)有限公司
電 話：
400-006-7520
傳 真：
400-006-7520
配送方式：
上海自提或三方快遞
聯(lián)系我時請說在上海非利加實業(yè)有限公司上看到的,謝謝！
應(yīng)力雙折射測量儀
PA-200高速應(yīng)力雙折射測量儀
應(yīng)力雙折射測試儀器簡介：
應(yīng)力雙折射儀，能夠快速、精確測量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。
應(yīng)力雙折射測試儀器主要產(chǎn)品分四部分：
n 光子晶體光學(xué)元件；
雙折射和相位差評價系統(tǒng)；
膜厚測試儀；
偏振成像相機。
『相位差』『雙折射』『內(nèi)部應(yīng)力』測量裝置 WPA/PA系列
PA/WPA系統(tǒng)特點：
操作簡單/快速測定：獨特的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布
2D數(shù)據(jù)的多方面分析功能：二維數(shù)據(jù)的強大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性。
相位差測試能力（WPA系列）：通過對三組不同波長的測量數(shù)據(jù)進行計算，WPA系統(tǒng)可以測量出幾千nm范圍內(nèi)的相位差。
高速雙折射測量 PA-200，PA-200-L
低相位差（如玻璃）的全面測試
針對相位差差別比較小的樣品，要求測量速度高的應(yīng)用，專門開發(fā)了PA系列的產(chǎn)品，測量速度快是核心。廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。
高速雙折射測量產(chǎn)品特點：
曲線圖功能
CSV格式輸出
軸相位差顯示
縮放鏡頭功能
l 用于低相位差樣品測試的標準系統(tǒng)。
l 適用于檢測玻璃的應(yīng)力或者透明晶片（如藍寶石、SiC和GaN）的內(nèi)部缺陷。
PHL高速雙折射測量技術(shù)參數(shù)：
型號 | PA-200 | PA-200-L |
測量范圍 | 0-130nm |
重復(fù)性 | <1.0nm |
像素數(shù) | 1120x868（P100萬）pixels |
測量波長 | 520nm |
尺寸 | 310x395x605.5mm | 450x538x915.5mm |
觀測到的面積 | 100x136mm | 250x300mm |
重量 | 18kg | 24kg |
數(shù)據(jù)接口 | GigE（攝像機信號） RS232C（電機控制） |
電壓電流 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | PA-View |
高速雙折射測量應(yīng)用領(lǐng)域：
玻璃，顯示組件，注塑塑料件，拉伸纖維，光纖器件，微影手提袋，鏡片毛坯，鏡片，硅片，礦產(chǎn)，激光晶體，液態(tài)晶體，雙折射晶體等。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
