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對于分析THz輻射（發(fā)散、空間或頻率模式和配置文件），偏振測定技術是非常重要的。偏振測定的主要儀器是鑒定和測量偏振信號的偏振調制器。
 
雙反射材料制成的Plano-Plano plates，用于修改輻射的偏振狀態(tài)。波片工作通過改變波的兩個正交偏振分量的相。玻片*常見的類型是半波片（λ/2 片）和1/4波片（λ/4片）。λ/2 片給出了相位延遲π 和λ/4片-π/2。半波片改變直線偏振光的偏振方向。1/4波片改變線性偏振光至圓形，反之亦然。
 
如果偏振方向是沿著偏振軸線上的，波片將不能改變線性偏振光束的偏振。
 
單***波長的THz波片：
 
常用規(guī)格：

Material:THz grade crystal quartz
 
Orientation:X-cut
 
Orientation tolerance, arc. min.:+/-10
 
Dimensions tolerance, mm:+/-0.25
 
Clear aperture, %:>=90
 
Parallelism, arc.sec.:5
 
Surface quality, scr/dig:60/40
 
TWD, L@633nm:1/2