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紅外光譜橢偏儀

價(jià)  格：詢價(jià)

產(chǎn)  地：更新時(shí)間：2021-01-18 16:44

品  牌：型  號(hào)：SENDIRA

狀  態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2612

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SENDIRA紅外光譜橢偏儀

SENDIRA紅外光譜橢偏儀,振動(dòng)光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動(dòng)模的吸收譜帶，分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。
產(chǎn)品詳情

SENDIRA紅外光譜橢偏儀,振動(dòng)光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動(dòng)模的吸收譜帶，分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。

 

橢偏振動(dòng)光譜

利用紅外光譜中分子振動(dòng)模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。

 

傅立葉紅外光譜儀FTIR完全適用

 

集成賽默飛世爾Thermo Fisher制造的型號(hào)FTIR iS50紅外光譜儀。它也適用于***般的振動(dòng)光譜。

 

光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度，折射率，消光系數(shù)以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內(nèi)是不透明的，現(xiàn)在也可以進(jìn)行測量。同時(shí)可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。

 

SENTECH光譜橢偏儀SENDIRA是專門為紅外應(yīng)用(FTIR)設(shè)計(jì)的。緊湊型測量臺(tái)包括橢圓儀光學(xué)部件，計(jì)算機(jī)控制角度計(jì)，水平樣品臺(tái)，自動(dòng)準(zhǔn)直透鏡，商用FTIR和DTGS或MCT探測器。FTIR在400 cm-1 ～6,000 cm-1 (1.7 µm – 25 µm)光譜范圍內(nèi)提供了極好的精度和分辨率。

 

光譜橢偏儀SENDIRA主要用于薄層的振動(dòng)光譜分析。應(yīng)用范圍從介質(zhì)膜、TCO、半導(dǎo)體膜到有機(jī)膜層。SENDIRA是由SpectraRay/4 軟件操作，另外還提供了FTIR軟件。

 

    

 

     

 

  



 

 


產(chǎn)品參數(shù)


產(chǎn)品介紹




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